機(jī)器視覺(jué)更廣泛的可用性和改進(jìn)的成像組件性能，以從紅外波長(zhǎng)的非可見(jiàn)光捕獲和創(chuàng)建圖像是一種趨勢(shì)能力，可以積極影響各種機(jī)器視覺(jué)應(yīng)用。這種趨勢(shì)的一部分是能夠在各種IR波長(zhǎng)下產(chǎn)生光的LED照明的激增。用于這種類(lèi)型的成像的用例是普遍的，并且識(shí)別IR成像可以在何時(shí)何地可以使應(yīng)用受益，這主要取決于被成像的對(duì)象和應(yīng)用的需要。Kek機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備_CCD視覺(jué)檢測(cè)_外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)_精質(zhì)視覺(jué)
大約700-1000nm的“近紅外”(NIR)波長(zhǎng)的成像已經(jīng)用于機(jī)器視覺(jué)多年。用于成像約1000-2800nm的“短波紅外”(SWIR)波長(zhǎng)的相機(jī)也不是全新的，但最近傳感器技術(shù)的進(jìn)步使得這些相機(jī)在自動(dòng)化應(yīng)用中更加實(shí)用。最后，現(xiàn)在可以使用非冷卻且非常適合自動(dòng)檢測(cè)的小型相機(jī)(微測(cè)輻射熱計(jì))進(jìn)行熱成像或大約7000-14000nm發(fā)射的IR波長(zhǎng)的成像。不可見(jiàn)成像-紅外波長(zhǎng)Kek機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備_CCD視覺(jué)檢測(cè)_外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)_精質(zhì)視覺(jué)
更廣泛的可用性和改進(jìn)的成像組件性能，以從紅外波長(zhǎng)的非可見(jiàn)光捕獲和創(chuàng)建圖像是一種趨勢(shì)能力，可以積極影響各種機(jī)器視覺(jué)應(yīng)用。這種趨勢(shì)的一部分是能夠在各種IR波長(zhǎng)下產(chǎn)生光的LED照明的激增。用于這種類(lèi)型的成像的用例是普遍的，并且識(shí)別IR成像可以在何時(shí)何地可以使應(yīng)用受益，這主要取決于被成像的對(duì)象和應(yīng)用的需要。Kek機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備_CCD視覺(jué)檢測(cè)_外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)_精質(zhì)視覺(jué)
機(jī)器視覺(jué)大約700-1000nm的“近紅外”(NIR)波長(zhǎng)的成像已經(jīng)用于機(jī)器視覺(jué)多年。用于成像約1000-2800nm的“短波紅外”(SWIR)波長(zhǎng)的相機(jī)也不是全新的，但最近傳感器技術(shù)的進(jìn)步使得這些相機(jī)在自動(dòng)化應(yīng)用中更加實(shí)用。最后，現(xiàn)在可以使用非冷卻且非常適合自動(dòng)檢測(cè)的小型相機(jī)(微測(cè)輻射熱計(jì))進(jìn)行熱成像或大約7000-14000nm發(fā)射的IR波長(zhǎng)的成像。Kek機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備_CCD視覺(jué)檢測(cè)_外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)_精質(zhì)視覺(jué)
實(shí)際執(zhí)行：Kek機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備_CCD視覺(jué)檢測(cè)_外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)_精質(zhì)視覺(jué)
不可見(jiàn)成像具有特定用途。NIR已被用于消除機(jī)器視覺(jué)燈的高功率眩光造成的工作人員分心和不適，或突出顯示紅外燈可能以不同方式對(duì)顏色或某些材料作出反應(yīng)的特定部件的特征。SWIR波長(zhǎng)由一些完全不透明的材料(例如許多塑料)傳輸，并且以與可見(jiàn)光波長(zhǎng)非常不同的方式被一些透明的材料(例如水)吸收。當(dāng)熱像必須在自動(dòng)化環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試時(shí)，熱成像是的解決方案。Kek機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備_CCD視覺(jué)檢測(cè)_外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)_精質(zhì)視覺(jué)
實(shí)際限制：Kek機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備_CCD視覺(jué)檢測(cè)_外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)_精質(zhì)視覺(jué)
機(jī)器視覺(jué)總體而言，對(duì)于非可見(jiàn)成像，如果目標(biāo)波長(zhǎng)提供所需的成像結(jié)果，則該
技術(shù)是一個(gè)不錯(cuò)的選擇。但是，請(qǐng)記住，應(yīng)用程序庫(kù)是機(jī)器視覺(jué)組合中用例的一小部分。限制可能包括：很難總是準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)NIR或SWIR照明將如何與待檢查的材料相互作用。建議測(cè)試應(yīng)用程序。
Kek機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備_CCD視覺(jué)檢測(cè)_外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)_精質(zhì)視覺(jué) 自動(dòng)化中熱成像的一個(gè)共同挑戰(zhàn)是為相對(duì)于背景溫度的所需熱分布開(kāi)發(fā)可靠的基線。例如，必須在部件由于散熱而冷卻之前進(jìn)行“過(guò)熱”部件的檢查，并且在檢查過(guò)程中冷卻必須在部件之間保持一致。成本正在下降，但SWIR和熱部件可能比可見(jiàn)成像部件更昂貴。Kek機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備_CCD視覺(jué)檢測(cè)_外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)_精質(zhì)視覺(jué)
